メッセージを送る
ホーム > 製品 > 半導体 > 試験試験試験試験試験試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験

試験試験試験試験試験試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験 試験

メーカー:
シリコンラボ
記述:
IC MCU 8BIT 16KB FLASH 20QFN
部門:
半導体
指定
Category:
Integrated Circuits (ICs) Embedded Microcontrollers
Package / Case:
20-WFQFN Exposed Pad
Number of I/O:
16
Operating Temperature:
-40°C ~ 125°C (TA)
Voltage - Supply (Vcc/Vdd):
2.2V ~ 3.6V
DigiKey Programmable:
Not Verified
RAM Size:
2.25K x 8
Program Memory Type:
FLASH
接続性:
Iの² C、SMBus、SPI、UART/USART
Package:
Tape & Reel (TR) Cut Tape (CT) Digi-Reel®
EEPROM サイズ:
-
Program Memory Size:
16KB (16K x 8)
オスイレーター型:
内部
Peripherals:
Brown-out Detect/Reset, POR, PWM, WDT
製品の状況:
アクティブ
Core Size:
8-Bit
Mounting Type:
Surface Mount
Series:
Busy Bee
Supplier Device Package:
20-QFN (3x3)
Data Converters:
A/D 15x12b
Mfr:
Silicon Labs
Core Processor:
CIP-51 8051
Speed:
50MHz
Base Product Number:
EFM8BB21
導入
CIP-51 8051 忙しいハチマイクロコントローラIC 8-ビット 50MHz 16KB (16K x 8) FLASH 20-QFN (3x3)
RFQを送りなさい
標準的:
MOQ: